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数字式逻辑状态测试器

在数字电路中常常需要对电路中某点的数字状态进行检测，以判断电路是否工作正常，通常情况下万用表只能测出稳定的高或低电平，当被测点状态不断改变时，用万用表测量就很困难，此时只能用示波器来观测。本文介绍一种数字式逻辑状态测试器，它可以简单地判断出被测点的高、低电平状态，以及是否工作在变化状态。

电路如图一所示，工作原理说明如下：

电路中的IC1为CD4011，为4与非门。当探针P悬空时，发光二极管LED2熄灭，LED1亦不点亮。当检测探针P触到高电平“1”时，其二极管D1导通，使得与非门的8、9脚由低电平跳变到高电平，则与非门的11脚输出高电平，故发光二极管LED1导通而发出红色光。当探针P触到低电平时，二极管D2导通，使得与非门的1、2脚为低电平，则与非门的4脚为低电平，故发光二极管LED2导通而发出绿色光。当测试点为低速脉冲串时，则发光二极管LED1和LED2交替点亮。如果测试点为高速脉冲串（占空比1：1）时，则LED1和LED2均点亮且无闪烁现象。测试点的高速脉冲串的占空比不为1：1时，则其中一个发光二极管点亮，而另一个发光二极管微亮或出现闪烁。